SOI Wafers

Кыска сүрөттөмө:

SOI пластинкасы үч катмардан турган сэндвич сымал түзүлүш;Анын ичинде үстүнкү катмар (түзмөк катмары), көмүлгөн кычкылтек катмарынын ортосу (изоляциялоочу SiO2 катмары үчүн) жана төмөнкү субстрат (массалык кремний).SOI пластинкалары SIMOX ыкмасын жана пластиналарды бириктирүү технологиясын колдонуу менен өндүрүлөт, бул аппараттын жука жана так катмарларын, бирдей калыңдыгын жана аз дефект тыгыздыгын камсыз кылат.


Продукт чоо-жайы

Продукт тегдери

SOI Wafers(1)

Колдонмо талаасы

1. Жогорку ылдамдыктагы интегралдык схема

2. Микротолкундуу приборлор

3. Жогорку температурадагы интегралдык схема

4. Күчтүү түзүлүштөр

5. Аз кубаттуу интегралдык схема

6. MEMS

7. Төмөн чыңалуудагы интегралдык схема

пункт

Аргумент

Жалпысынан

Вафли диаметри
晶圆尺寸(мм)

50/75/100/125/150/200мм±25ум

Жаа/Warp
翘曲度(

<10um

Бөлүктөр
颗粒度(

0.3um<30ea

Flats/Notch
定位边/定位槽

Жалпак же тешик

Edge Exclusion
边缘去除(мм)

/

Түзмөк катмары
器件层

Түзмөк катмарынын түрү/Допант
器件层掺杂类型

N-Type/P-Type
B/ P/ Sb / As

Түзмөк катмарынын багыты
器件层晶向

<1-0-0> / <1-1-1> / <1-1-0>

Түзмөк катмарынын калыңдыгы
器件层厚度(um)

0.1~300um

Түзмөк катмарынын каршылыгы
器件层电阻率(ом•см)

0,001~100,000 Ом-см

Түзмөк катмарынын бөлүкчөлөрү
器件层颗粒度(

<30ea@0.3

Түзмөк катмары TTV
器件层TTV(

<10um

Түзмөк катмарын бүтүрүү
器件层表面处理

Жылмаланган

КУТУ

Көмүлгөн жылуулук оксидинин калыңдыгы
埋氧层厚度(um)

50нм(500Å)~15um

Handle Layer
衬底

Handle Wafer Type/Dopant
衬底层类型

N-Type/P-Type
B/ P/ Sb / As

Вафли багытын кармаңыз
衬底晶向

<1-0-0> / <1-1-1> / <1-1-0>

Handle Wafer Resistive
衬底电阻率(ohm•cm)

0,001~100,000 Ом-см

Вафли калыңдыгы
衬底厚度(um)

>100um

Вафли бүтүрүү
衬底表面处理

Жылмаланган

Максаттуу спецификациядагы SOI пластиналар кардарлардын талаптарына ылайыкташтырылышы мүмкүн.

Semicera Жумуш орду Жарым жылдык жумуш орду 2

Жабдуу машинаCNN иштетүү, химиялык тазалоо, CVD каптоо

Биздин кызмат


  • Мурунку:
  • Кийинки: